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HS-CLT少子寿命测试仪是一款功能异常强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1μs到20000μs,硅料电阻率下限达0.1Ω.cm,(可扩展至0.01Ω.cm)。测试过程全程动态曲线监控，少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况，是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。
HS-CLT少子寿命测试仪
2021-04-28 11:10 点击:62
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HS-CLT少子寿命测试仪是一款功能异常强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1μs到20000μs,硅料电阻率下限达0.1Ω.cm,(可扩展至0.01Ω.cm)。测试过程全程动态曲线监控，少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况，是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。
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HS-CLT少子寿命测试仪是一款功能异常强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1μs到20000μs,硅料电阻率下限达0.1Ω.cm,(可扩展至0.01Ω.cm)。测试过程全程动态曲线监控，少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况，是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。
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