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万分位内校分析天平

放大字体  缩小字体 发布日期:2024-03-23 21:10  浏览次数:8
FA-A(I)系列万分位内校分析天平包括拥有至高测量性能的分析天平。它们配备了高度集成的称重传感器,这种传感器具有很高的稳定性,不因温度变化和时间流逝而改变,并由于质量减小、组件总数减少而具有快速响应能力。FAAI天平在标准配置下具有自动内部校准功能,从而确保测量始终保持精准,真正不再受环境温度变化的影响。FAAI系列分析天平最大称重为310g/410g/510g/610g。所有型号均配有背光LCD显示屏和可以保护大容量内部测量室的挡风玻璃。每个天平都配有RS232输出接口。
FA-A(I)系列万分位内校分析天平技术数据:
量程漂移(+10…+30°C):+/–2ppm/°C
外形尺寸:长×宽×高(毫米):345×215×345
称重室尺寸:长×宽×高(毫米):162×171×225
外部电子盒尺寸:长×宽×高(毫米):175×105×50(毫米),重量500克
电源110-230 Vac,50/60 Hz:输出24 V/500 mA/13 VA
净重:7千克
选配附件:
ION-A15静电消除器
天平平板系统。USB版本(BL0329)或蓝牙版本(BL0330)
DPP-250-BT蓝牙打印机,用于BEL平板系统(AC013)
TLP-50串行打印机,带日期/时间(C054)
DPP-250串行打印机(AC007)
STAT串行打印机,带统计功能(AC022)
字母数字外部键盘(AC005)
串行到USB转换器(E1002)
串行电缆,用于串行输出到打印机或电脑(E743)
出厂校准证书(BL0333)
万分位内校分析天平
http://www.himmelai.com/Products-38140150.html
https://www.chem17.com/st604243/product_38140150.html
万分位内校分析天平
网址:http://www.shangtaiw.com/news/show-103246.html
 
 
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