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源表特点：
多功能：可作源和负载，又能测；
高效率：满足多种测试需求；
可编程控制：高精度可调，灵活控制；
IV扫描：快速、直观显示，一步操作。
应用领域：
分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；
能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等
有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等
纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等
测试功能：
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微电路 |
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1 |
晶圆 |
L-IV测试，输入曲线、输出曲线 |
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2 |
芯片 |
L-IV测试，输入曲线、输出曲线 |
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器件 |
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1 |
二极管 |
正向导通电压、正向电流、反向击穿电压、反向漏电流 |
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2 |
三极管 |
L-IV测试，输入曲线、输出曲线 |
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3 |
MOSFET |
L-IV测试，输入曲线、输出曲线 |
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4 |
IGBT |
L-IV测试，输出曲线、转移曲线 |
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5 |
晶闸管 |
正向电压电流曲线、反向电压电流曲线、触发特性 |
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电池 |
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1 |
锂电池 |
IV测试，充放电扫描曲线 |
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2 |
光伏电池 |
IV测试，放电扫描曲线 |
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材料 |
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1 |
石墨烯 |
IV测试、输入曲线、输出曲线 |
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2 |
纳米线 |
IV测试、输入曲线、输出曲线 |
S系列源表特点：
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5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作
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内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV
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源及测量的准确度为0.1%，分辨率5数位
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四象限工作（源和肼），源及测量范围：电流100pA~1A，电压0.3mV~300V
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丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
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支持USB存储，一键导出测试报告
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支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网
应用优势：
1、 多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高300V，电流低至100pA；
2、 实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。
3、 具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；
精确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。
4、 触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。
国产优势
1、自主研发，符合大环境下国内技术自给的需求；
2、性价比高；
3、可及时与客户沟通，为客户提供高性价比系统解决方案。及时指导客户编程，加速测试系统开发。
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晶圆微电流测试仪器
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