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2.0*1.6-4PIN晶振探针老化座
产品简介
A、产品用途:老化座、测试座，对2016（2.0*1.6）的IC芯片进行高低温老化测试
B、适用封装: 2016（2.0*1.6）-4PIN晶振探针老化座
C、采用双触点技术，接触更稳定、体积小。
D、采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长、阻抗小、弹性好
E、镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度，使用寿命（翻盖结构20000次）
F、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号: 2016（2.0*1.6）-4PIN
B、脚位:4
C、芯片尺寸:2.0*1.6
实物图拍：
2016-4PIN晶振探针老化座2.0*1.6晶振翻盖测试座
网址:http://www.shangtaiw.com/b2b/hydz3010/sell/itemid-94197.html